植物冠層分析儀測(cè)量常見(jiàn)難題解析

　　1.植物冠層分析儀的直接測(cè)量法和間接測(cè)量法優(yōu)缺點(diǎn)

　　直接測(cè)量法通過(guò)先測(cè)定所有葉片的葉面積，再計(jì)算LAI，因要剪下全部待測(cè)葉片，多數(shù)屬于毀壞性測(cè)量，或至少會(huì)干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量，直接測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。

　　間接測(cè)量法是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系，通過(guò)植被冠層的輻射轉(zhuǎn)移模型來(lái)推斷LAI，可以避免直接測(cè)量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn)，不受時(shí)間的限制，獲取數(shù)據(jù)量大，儀器容易操作，方便快捷，還可以測(cè)定一年中森林冠層LAI的季節(jié)變化。

　　2.植物冠層分析儀測(cè)量LAI的原理及理想光照條件

　　當(dāng)光線透過(guò)植物冠層時(shí)，由于受到葉片和枝干的阻攔，輻射強(qiáng)度會(huì)迅速消減，根據(jù)其消減程度就可推算出植物的葉量。冠層分析儀便是依據(jù)此原理，通過(guò)測(cè)量植被冠層以上（A）和植被冠層以下（B）5個(gè)角度的透射光線，利用植被樹(shù)冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算LAI。理想的光照條件是均勻的陰天或者散射光照下，易找到合適的測(cè)量時(shí)間往往是黎明之前和日落之后的瞬間。作為一般原則，如果可以看到地上的影子或者林冠上有陽(yáng)光照射的葉子，這時(shí)的天空的光照條件就沒(méi)有滿(mǎn)足。

　　3.植物冠層分析儀的不同測(cè)量模式

　　單傳感器模式：適合測(cè)量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類(lèi)型，如低矮灌木、農(nóng)作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被類(lèi)型的測(cè)定；

　　雙傳感器模式：用于森林測(cè)量或作物測(cè)量，其中一個(gè)傳感器固定在冠層上部，需要增加長(zhǎng)的擴(kuò)展線；

　　遙測(cè)模式：主要用于缺少空地的森林。

　　4.測(cè)量喬木林下的灌木層的LAI

　　先測(cè)定喬木層的LAI，然后測(cè)定灌木層和喬木層的LAI，兩者之差即為灌木層的LAI。