植物冠層分析儀儀器介紹

更新時間：2018-10-23

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植物冠層分析儀300可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
植物冠層分析儀儀器介紹
植物冠層分析儀可廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截，所以該儀器適用于比較低矮的作物，樹木等其他較高的植物，推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。
測量植物冠層的作用：
作物葉面積指數(shù)是描述作物冠層結(jié)構(gòu)的一個重要參數(shù)，作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關鍵生理過程，葉面積指數(shù)是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產(chǎn)模型的重要參數(shù)。所以測量作物冠層具有重要的意義。